光子计数中后脉冲概率的测量与修正
近年来，随着量子信息学科的发展，单光子探测技术在量子保密通讯、分子荧光寿命测量、单光子源制备、高分辨率的光谱测量、大气污染监测等领域有着广泛的应用。这种工作于盖革模式的单光子探测器在对应没有光子入射时，仍然会产生一定数量的计数，严重影响着光子计数测量，通常这些计数是由暗计数和后脉冲引起的。
本论文的主要研究内容有：(1)光子统计法测量脉冲光产生的后脉冲概率在实验中我们采用分析单光子探测器输出脉冲的统计分布的方法来测量单光子探测器的后脉冲概率，测量得到的实验结果是光电探测器的后脉冲概率为0.36％，介于时间分辨光谱技术测量后脉冲的概率4％与该探测器标定的结果3％之间。
(2)时间分辨光谱技术测量单光子探测器的后脉冲概率使用开始-停止的时间分辨技术测量单光子探测器的后脉冲概率，同时对于开始-停止技术及暗计数引起的测量结果畸变给出了修正公式。测量结果显示，后脉冲概率主要受两个俘获能级的影响；其能级寿命分别为503ns和33ns，提出选择合适的采样门宽度可以有效减小后脉冲对于光子计数测量的影响。
单光子探测;后脉冲概率;光子统计;时间分辨光谱;暗计数
山西大学
硕士
光学
肖连团;贾锁堂
2006
中文
O572.31;O572.212
40
2007-07-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）