精确测量晶体材料最大双折射率的方法研究
双折射率是表征各向异性晶体光学特性的一个非常重要的光学参数，由材料的成分结构以及生成条件等多种因素所决定，并且与波长有关。本文采用连续偏光干涉测量法测量晶体双折射率，根据偏光干涉理论公式，当相位满足一定条件时，光强分别有极大极小值，知道了极值对应的波长，根据相位公式，便可计算出对应不同波长的双折射率，所需样品仅为一光轴平行表面的平薄板，结构简单，样品制作过程中各技术指标容易控制。偏光干涉测量涉及范围不仅是可见区，它已拓展到紫外和红外光谱区，并且不需要复杂处理，就可得到精度10-5的双折射率值。
双折射率;晶体;偏光干涉测量法;单色性;透射比
曲阜师范大学
硕士
光学
宋连科
2005
中文
O436.3;O734.2
43
2005-11-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）