精确测量晶体材料最大双折射率的方法研究
双折射率是表征各向异性晶体光学特性的一个非常重要的光学参数,由材料的成分结构以及生成条件等多种因素所决定,并且与波长有关。本文采用连续偏光干涉测量法测量晶体双折射率,根据偏光干涉理论公式,当相位满足一定条件时,光强分别有极大极小值,知道了极值对应的波长,根据相位公式,便可计算出对应不同波长的双折射率,所需样品仅为一光轴平行表面的平薄板,结构简单,样品制作过程中各技术指标容易控制。偏光干涉测量涉及范围不仅是可见区,它已拓展到紫外和红外光谱区,并且不需要复杂处理,就可得到精度10-5的双折射率值。
双折射率;晶体;偏光干涉测量法;单色性;透射比
曲阜师范大学
硕士
光学
宋连科
2005
中文
O436.3;O734.2
43
2005-11-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)