拟南芥抗低硼基因的初步定位
随着模式植物拟南芥基因组测序的完成，利用拟南芥开展抗低硼胁迫基因的克隆将有助于对植物低硼忍耐机理的认识，及作物硼营养性状的改良。本课题以拟南芥中的一个抗低硼胁迫突变体Lbt为材料，通过正向遗传学的方法对该突变体进行了生理及遗传分析，将抗低硼胁迫基因Lbt初步定位于第4染色体上，并找到了与该基因紧密连锁的分子标记。主要结果如下：
1.拟南芥抗低硼胁迫突变体的遗传分析
将低硼忍耐型突变体Lbt与筛选得到的低硼敏感型单株1909进行杂交构建作图所需的F2群体。通过对F1及F2代在低硼水平下表型的遗传分析可知，Lbt为单基因隐性突变所致。
2.拟南芥抗低硼胁迫群体遗传连锁图谱构建
以F2为作图群体，采用SSLP和AFLP两种分子标记构建遗传图谱，利用JoinMap4.0进行遗传连锁分析，构建了含有206个位点(包括13个SSR位点和193个AFLP位点)分布在4个连锁群上的遗传连锁图谱，该遗传图谱总长度为317.14 cM，标记间的平均距离为3.48 cM。
3.拟南芥抗低硼基因的初步定位
将抗低硼胁迫下各单株的表型作为质量性状或数量性状进行定位，抗低硼基因Lbt均可定位于第4染色体上，同时我们找到了两个连锁标记s07m01和s01m04-1且s01m04-1与目的基因间的遗传距离为2.9 cM。该标记的测序结果，进一步验证了该标记在图谱上位置的正确性。然而，测序结果也显示出在目标区段内两亲本间缺乏具多态性的分子标记，不利于精确定位工作的进行。
拟南芥;低硼忍耐;图位克隆;分子标记;连锁分析;胁迫基因
华中农业大学
硕士
植物营养学
徐芳森
2012
中文
Q945.12
70
2012-11-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）