LED晶粒自动点测台系统研究
LED晶粒的点测是LED生产中的一个重要环节，由于点测设备长久以来一直被外国和台湾垄断，研发具有自主知识产权的LED晶粒点测设备是事在必行的。在LED晶粒大批量工业生产过程中，由于高度集成化，在点测环节要在有限的薄膜衬底上放置大量的LED晶粒。我们需要对薄膜衬底上的LED晶粒进行相应的筛选和检测，将完整的LED晶粒检测出，并识别它的不同级别，将不同级别的晶粒分别拣出。
本课题研究的是LED晶粒自动点测台系统，首先构建出LED晶粒自动点测台系统的硬件结构，并阐述了系统的测试原理和设计方案。其次对系统的运动控制部分进行设计，运用运动控制技术，并利用PCI-8134运动控制卡控制电机，从而实现电机四个方向上的运动。然后对系统的视觉部分进行设计，运用图像处理中的模板匹配算法，使用Sapera，Processing图像处理软件来识别LED晶粒，从而实现LED晶粒的识别与定位。最后对系统的软件部分进行设计，使用VC++6.0作为软件开发平台，结合图像处理技术和运动控制技术获得LED晶粒在薄膜衬底上的精确位置，并利用其生成高质量的LED晶粒MAP图，并结合LED晶粒测试仪对晶粒进行点测，获取晶粒的具体参数，供LED分选机分选出不同规格和级别的LED晶粒，从而达到分检出不同规格和级别的LED晶粒的目的。测试结果表明，论文中所构建的硬件平台和开发的软件算法合理，且处理精度基本达到设计要求。
发光二极管;运动控制卡;模板匹配;晶粒点测;自动点测台系统
西安工业大学
硕士
通信与信息系统
张海宁
2011
中文
TN312.8
65
2011-08-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）