调制散射近场测量系统的研究
调制散射近场测量技术最大限度地减少了测量装置对被测场的扰动，可以用于辐射天线的近场测试，为天线的设计和研究提供精确的试验数据。本文从近场测量技术出发，总结了调制散射近场测量技术的优点。采用互易原理分析了单双站调制散射近场测量系统的工作原理，并对三种调制散射技术进行了讨论。详细分析了调制散射近场测量系统的结构，设计了电调制控制电路，给出了解调的方法和系统各部分的参数。本文同时对影响调制散射近场测量系统精度的因素进行了分析，并给出了相应的补偿办法，设计了接收系统前端高频低噪声放大器。调制散射近场测量探头采用印刷偶极子进行设计，指标基本满足要求，实际测试数据与理论分析吻合较好。
辐射天线;近场测试;调制散射
西安电子科技大学
硕士
电磁场与微波技术
李勇
2008
中文
TN820;TN76
59
2009-04-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）