网络化边缘扫描测试控制器的研制与系统组建
随着深亚微米集成电路技术的发展,已经可以将大多数甚至所有的系统功能封装在单个芯片上。与此同时,越来越高的芯片集成度和印制板组装密度,使得外部可访问的引脚数越来越少,集成电路和PCB的测试变得越来越困难。从而导致芯片测试可能比芯片的设计生产付出的成本还要高。边缘扫描测试技术就是一种将可测性直接设计到硅片里的技术,支持系统级、板级、芯片级等所有层级的测试。边缘扫描测试技术为集成电路的可测性设计提供了一个测试接口和体系结构,并且已标准化,定为IEEE1149.1标准。随着信息技术的发展,人们对测试的要求也越来越高,要求实现仪器资源的共享和对仪器的远程控制,即实现网络化测试。而将网络化测试技术同边缘扫描测试技术相结合,组建网络化边缘扫描测试系统,则能提高边缘扫描测试技术的实用性。本文利用嵌入式技术开发了以太网边缘扫描控制器,此控制器实现了以太网接入功能,可以测试任何符合IEEE1149.1标准的器件、电路板和系统。使用C++语言自主设计的软件接口提供了控制边缘扫描控制器的动态库函数和自动解析边缘扫描描述语言(Boundary-scanDescriptionLanguage,简称BSDL)文件的类。设计了具有四条边缘扫描链路的电路板,作为被测目标。最后,利用边缘扫描控制器和软件接口,以及针对被测目标的测试算法软件,组建了网络化边缘扫描测试系统,从而实现了对各被测链路的器件识别、边缘扫描链路测试、电路板级互连线测试(开路和短路故障测试)以及内测试。本文首先讨论了课题的研制背景和意义,以及边缘扫描技术的发展现状和趋势,并简要介绍了边缘扫描测试原理;然后重点阐述了以太网边缘扫描控制器的设计方法,边缘扫描描述语言的自动解析方法和软件接口设计,以及网络化边缘扫描测试系统的组建方法;最后进行了全文总结,并提出了一些设计上的改进意见。
网络化边缘扫描测试控制器;边缘扫描测试;描述语言;测试系统
电子科技大学
硕士
测试计量技术及仪器
陈光(礻禹)
2006
中文
TP393.06;TN407
82
2014-05-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）