学位专题

目录>
<

1064nm连续激光辐照硅基PIN探测器的热效应研究

高乐
长春理工大学
引用
硅基PIN探测器是一种高敏感度的电子器件,它具有灵敏度高、体积小、响应快等优点,广泛应用于光电探测领域,例如:医疗、通信、测距、打印等等。光电探测器在探测激光信号时可能会受到损伤,导致探测器的光电性能下降,对探测器的探测效果产生极大地影响,因此研究连续激光辐照硅基PIN探测器热效应具有十分重要的意义。  1064nm连续激光辐照硅基PIN探测器会出现光电转换、光热转换等现象,损伤过程较为复杂。本文通过理论分析、仿真建模的方式建立1064nm连续激光辐照硅基PIN探测器的热学模型。分析激光参数、外置偏压等多种条件下其温度、暗电流、损伤形貌及面积的变化关系,并结合实验验证了热学模型的合理性。  论文以硅基PIN探测器为研究对象,从热学理论出发,并基于经典热传导方程、热辐射和热对流的基本公式,在考虑多种热源的前提下,建立了1064nm连续激光辐照下硅基PIN探测器的热学模型。  利用多物理场耦合分析软件COMSOLMultiphysics,对1064nm连续激光辐照硅基PIN开展热学仿真研究,获得不同外置偏压、功率密度和作用时间下1064nm连续激光辐照硅基PIN探测器的表面温度及轴向温度分布规律。对不同激光功率密度、作用时间和外置偏压下硅基PIN探测器表面温度的差异给出合理的解释。从载流子的运动规律出发,重点分析外置偏压下1064nm连续激光辐照对硅基PIN表面温升起反向作用的影响。  搭建实验平台,在线测量了硅基PIN探测器的实时表面中心点温度的变化,离线测量了损伤后硅基PIN探测器的暗电流、损伤形貌及损伤面积。通过实验得到了不同外置偏压、功率密度和作用时间下温度、暗电流、损伤面积及形貌的变化关系。将其与仿真结果对比,验证了1064nm连续激光与硅基PIN作用热学模型的合理性。

硅基光电探测器;连续激光辐照;热效应;热学模型

长春理工大学

硕士

物理学

魏智

2022

中文

TN201

2023-02-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

相关文献
评论
相关作者
相关机构
打开万方数据APP,体验更流畅