10.3969/j.issn.2095-2783.2017.02.014
一维光子晶体带隙边缘处态密度突然增强现象的理论分析
针对一维光子晶体态密度(density of states,DOS)特性,建立数学计算模型,并就其带隙边缘突然增强现象,研究了近似局域最大值与周期数、薄膜材料折射率之间的对应关系.首先计算得到了特定周期数、相对折射率差下的近似局域最大值,接着绘制了DOS带隙特性曲线,验证了局域最大值的准确性.最后通过分析,进一步得到了周期数、相对折射率差对带隙边缘处DOS突然增强现象的调制关系.
一维光子晶体、态密度、归一化、边缘增强、局域最大值
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O484.4(固体物理学)
高等学校博士学科点专项科研基金资助项目20123401120008;安徽高校省级科学研究重大项目KJ2015ZD04
2017-05-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共5页
195-199
