10.3969/j.issn.2095-2783.2013.02.005
Sn薄膜沉积时间对首周锂离子容量损失的影响
通过控制直流磁控溅射时间在15～3 600 s之间制备出系列不同厚度的Sn薄膜负极,研究了沉积时间变化对首周不可逆容量损失的影响.当Sn薄膜沉积时间为15 s时,首周放电容量远远大于理论容量,其中首周充放电不可逆容量损失占首周放电容量的56％以上,1.5V至锡锂合金化反应电位0.67V之间出现的SEI膜是造成该不可逆容量的主要原因.随着薄膜沉积时间增加,首周容量损失呈现非单调变化趋势.当沉积时间低于600 s时,首周容量损失与SEI膜容量变化趋势基本一致；当沉积时间长于600 s时,首周容量损失单调递增,而SEI膜容量单调下降,说明SEI膜的形成不再是首周容量损失的主要原因.应用X射线衍射仪和扫描电子显微镜对不同沉积时间Sn薄膜进行结晶形态和表面形貌分析,探讨了薄膜表面形貌、结晶形态与SEI膜容量及首周不可逆容量损失之间的关系.
锂电池、磁控溅射、锡、薄膜、SEI膜、表面形貌
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O646;TM912.9(物理化学（理论化学）、化学物理学)
国家自然科学基金资助项目51211140045;高等学校博士学科点专项科研基金资助项目20100185110019;教育部新世纪人才计划资助项目NCET-10-0296
2013-06-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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