10.3969/j.issn.2095-2783.2012.04.002
Smart-p：重映射粒度可变的PCRAM磨损错误恢复机制
新兴的非易失性相变存储内存PCRAM具有比DRAM更好的扩展性、功耗更低等特点,但其本身存在磨损错误的问题。目前非易失性内存的最新容错技术Free-p方法在非易失性内存寿命后期会频繁引起操作系统中断,影响系统性能和可靠性,甚至会导致内存系统的拒绝服务攻击。Smart-p方法针对Free-p方法做了改进,提出了粗粒度重映射和细粒度重映射相结合的PCRAM磨损错误恢复机制,使得映射粒度灵活可变。该方法在不影响PCRAM使用寿命的情况下,使操作系统中断数量下降54%,减少了中断对系统性能的影响,提高了系统的可靠性和安全性。
非易失内存、相变存储内存、容错、可靠性
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TP391(计算技术、计算机技术)
国家自然科学基金资助项目61103020
2012-08-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共6页
246-251
