10.3969/j.issn.2095-2783.2008.01.011
可测性设计技术的回顾与发展综述
介绍了可测性定义、起源和发展过程,简要分析了国内可测性技术的现况和存在问题.对可测性建模、度量、基本方法、相关国际标准、可测性设计平台和可测性技术发展趋势等几个核心问题进行了探讨.
测量与仪器、可测性设计、内嵌自测试、边界扫描
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TN45(微电子学、集成电路（IC）)
总装预研重点基金51317040102;博士点基金20070614018
2008-12-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共7页
52-58
