双光束照明的干涉粒子成像粒子尺寸测量
设计一种两光束相向照射,在散射角θ=90°方向记录的干涉粒子成像测量实验系统,利用模版匹配相关方法提取粒子两点像的位置坐标,根据粒子像位置坐标,粒子掩模图的形状和大小提取出单个粒子两点像.再对每个粒子两点像进行自相关、Gaussian插值提取两点像之间距离,进而计算得到粒子尺寸大小,其测量精度可达到亚像素精度.对标称值为45 μm的标准粒子进行了测量,粒径测量值为(46.54±0.50) μm,相对误差3.42％.实验结果表明了该方法的可行性.
测量、干涉粒子成像、双光束照明、聚焦像、粒子尺寸测量
42
TN247(光电子技术、激光技术)
国家自然科学基金;国家重点实验室开放基金
2016-01-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
221-226
