Sb80Bi20光学非线性纳米薄膜的超分辨效应
利用Z-扫描测试技术研究了低功率下Sb80 Bi20纳米薄膜的非线性光学特性,并利用椭圆偏振光谱仪测量了薄膜光学常数及椭偏参数.实验结果表明Sb80 Bi20薄膜具有较大的饱和非线性光学吸收,非线性系数约为-0.018 m/W,而非线性折射率效应却不明显.Sb80 Bi20纳米薄膜的超分辨效应主要在于具有大的非线性吸收系数.理论计算表明35 nm厚薄膜可使高斯光束半径缩小大约10％.因此Sb80 Bi20薄膜有望用于近场超分辨结构.
薄膜、Sb80Bi20薄膜、超分辨效应、Z扫描测量、光学非线性
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O484.4(固体物理学)
2014-08-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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