激光等离子体X射线背光源诊断研究
为诊断激光驱动金属靶产生X射线背光源的性能,利用椭圆聚焦特性,研制了一种背光椭圆晶体谱仪.谱仪的色散分析元件为云母(002)晶体,椭圆弯晶的焦距为1350mm,离心率为0.9586.激光束以30°角斜入射背光薄靶,且与椭圆弯晶长轴方向垂直.背光椭圆弯晶谱仪的布拉格入射角为50°~67°,衍射探测角为100°~120°,探测的波长为0.14~0.16 nm,采用X射线CCD相机接收信号.利用神光Ⅱ激光装置7#和8#激光器同时聚焦轰击10μm厚的Cu平面背光薄靶,CCD成功获取了Cu等离子体X射线的类氦和Kα谱线.经解谱发现谱线有明显基底,用最小二乘法差值去噪处理后,实测谱线分辨率(λ/Δλ)大于700.
光谱学、等离子体光谱学、椭圆弯晶谱仪、神光Ⅱ、激光等离子体、X射线背光源
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O536;O432(等离子体物理学)
国家863计划2012AA8041070B;强场激光物理国家重点实验室开放项目、重庆市教委科学技术研究项目KJ120710,KJTD20313;重庆工商大学青年基金
2014-04-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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