光电振荡器测距方法中的纵模阶数测量
在光电振荡器(OEO)测距方法中,振荡频率与环路群时延关系的建立依赖于纵模阶数,纵模阶数测量误差直接影响测距精度.但是OEO频率稳定性较低,通过直接测量振荡频率和相邻纵模频率间隔所获得的纵模阶数误差较大.分析了频率漂移对纵模阶数测量的影响及测量过程中的频率漂移规律,提出一种新的纵模阶数测量方法,该方法在不改变OEO结构的基础上,利用OEO纵模等间隔分布的特点,分别测量振荡模到x阶高阶模和x阶低阶模的频率间隔后获取纵模间距,减小并补偿频率漂移造成的误差.随后建立了纵模阶数测量误差模型,并进行了1 km光纤20 GHz信号的纵模阶数测量对比实验,实验结果与误差模型相符.
测量、纵模阶数、光电振荡器、误差补偿
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TH711(仪器、仪表)
国家863计划2012AA041205;国家杰出青年科学基金51225505
2014-04-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共5页
169-173
