Z箍缩等离子体X射线椭圆弯晶谱仪
为了测量Z箍缩等离子体X射线的空间分辨光谱,利用椭圆聚焦原理,研制了一种椭圆晶体谱仪.以Si(111)椭圆弯晶作为色散分析元件,椭圆的离心率为0.9480,焦距为1348 mm,布拉格角范围为30°～54°,谱线探测角范围为54°～103°,探测的波长范围为0.31～0.51 nm.设计了半径为50 mm的半圆型胶片暗盒,内装胶片接收光谱信号.分析了椭圆的弥散度对光谱分辨率的影响.在"阳"加速器装置上进行摄谱实验,胶片成功获取了氩喷气等离子体X射线的跃迁光谱,实测谱线分辨率(λ/Δλ)达300～500,波长与理论值吻合.
光学器件、等离子体光谱学、椭圆弯晶谱仪、Z箍缩、X射线
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TH744.15;O434.13(仪器、仪表)
国家自然科学基金10576041;国家863计划资助项目
2009-03-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共4页
115-118
