两种吸附剂对SF6分解特征组分吸附的实验与分析
研究吸附剂对在局部放电下SF6分解组分的影响是探究利用分解组分诊断 SF6电气设备内部早期绝缘缺陷的重要内容。为此，在建立的特定吸附实验研究平台上，选用SF6电气设备中最常用的活性氧化铝和kdhF-03型分子筛吸附剂，对局部放电(partial discharge，PD)下产生的4种SF6稳定分解特征组分(CF4、CO2、SO2F2和SOF2)进行吸收特性研究，利用气相色谱仪和质谱联用仪定时检测气室内气体残余量，结合吸附量和等温吸附线对吸附机制和作用过程进行了深入分析。结果表明：两种吸附剂几乎不吸附 CF4，对CO2略有吸附，但对SO2F2和SOF2有较强的吸附能力，吸附量由多到少依次为SOF2>SO2F2>CO2>CF4。因此，在利用特征组分含量及变化规律辨识 SF6气体绝缘设备的绝缘缺陷时，必须考虑吸附剂的影响。实验也发现选用SOF2+SO2整体作为辨识 SF6设备内部绝缘缺陷的一种特征组分更有效。
吸附剂、SF6分解组分、绝缘缺陷、分子筛、吸附量、吸附等温线
TM835(高电压技术)
国家重点基础研究发展计划项目973项目2009CB 724506；国家自然科学基金项目5177181；中央高校基本科研业务费专项资金CDJXS12150001。Project Supported by National Basic Research Program of China 973 Program2009CB724506;National Natural Science Foundation of China5177181;Fundamental Research Funds for the Central UniversitiesCDJXS12150001
2013-11-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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