基于层次聚类的平面阵列电容聚焦成像方法
为减少平面阵列电容成像过程中的无效数据,提出一种基于层次聚类的平面阵列电容聚焦成像方法.根据平面阵列电极电容数据的特点,利用层次聚类算法对电容数据进行分类,根据分类结果将电极分为无效电极和有效电极,并进一步确定感兴趣区域,利用有效电极产生的电容值进行电容成像,从而达到减少无效数据,提高计算效率,加快图像重建速度的目的.对绝缘材料进行缺陷探测的仿真实验,结果表明:数据优化之后得到的重建图像与数据优化之前得到的重建图像相比,在减少数据量加快图像重建速度的同时,可保证图像重建的精度.
聚焦成像、层次聚类算法、缺陷图像重建、平面阵列传感器
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TP212.1;TB9(自动化技术及设备)
国家自然科学基金61973115
2023-04-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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