期刊专题

10.11857/j.issn.1674-5124.2020060126

DR平板探测器图像校正方法研究

引用
针对数字射线(digital radiography,DR)平板探测器各像元不一致造成的图像灰度值不均匀问题,建立基于统计分析的图像校正方法.以XRPad24336平板探测器为对象,首先获取原始空场图像和暗场图像,讨论基于暗场图像的偏移校正,基于空场图像灰度值中位数的增益校正方法;然后根据标准ASTM-E2597的定义,对坏像素进行标记和修正;最后以标准差信噪比(SNR)来评价图像校正后效果.经实际工件透照分析表明:原始图像经校正后,图像质量得到有效提高.该校正方法具有普遍适用性,可为其他DR平板探测器图像校正提供参考.

统计分析;DR平板探测器;图像校正;坏像素标定

47

TL812(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)

2021-10-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共8页

7-14

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

中国测试

1674-5124

51-1714/TB

47

2021,47(9)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn

打开万方数据APP,体验更流畅