10.11857/j.issn.1674-5124.2020070009
T/R阵列自动测试系统去嵌入技术研究
为解决T/R阵列自动测试系统的链路校准准确度和校准效率的难题,提出一种基于TRL(thru,reflect,line)校准技术的链路去嵌入方法,通过建立测试系统的误差模型,并获取测试系统对TRL标准件的测试结果,运用TRL校准算法解算出各个误差项,实现测试系统去嵌入的目的.设计TRL标准件,并在Matlab中实现去嵌入算法,运用该方法对含有嵌入网络的滤波器模型实现去嵌入.去嵌入结果表明:在去嵌入频段内,增益测量误差＜0.2 dB,驻波比测量误差≤0.07,传输相位测量误差≤2°,去嵌入耗时不随T/R组件规模的增大而增加,证明该方法可以提升T/R阵列自动测试系统的校准准确度和校准效率.
去嵌入;TRL校准;T/R阵列自动测试系统;校准准确度;校准效率
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TN98
2021-09-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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