10.11857/j.issn.1674-5124.2018080084
电子产品高温试验箱的温度场分析及优化
环境应力筛选是电子产品生产过程中非常重要的环节,能激发并排除早期故障,而高温测试箱在此环节起着至关重要的作用,其性能好坏直接影响电子产品可靠性.现有的高温试验箱内部温度梯度较大,无法满足试验箱温度均匀的条件,会导致测试结果不准确,此外,加热时间较长,严重影响试验工作效率.结合西门子公司要求,文章以改善高温试验箱温度场分布、缩短加热时间为主要研究目标,首先利用流体仿真软件Fluent对现有高温试验箱进行温度场分析,再通过试验验证仿真的可靠性,并基于最后建立的仿真模型进一步提出环境试验箱的优化方案.结果表明,通过优化,将高温试验箱温度偏差从±4℃优化至±2℃,有效提高高温试验箱温度均一性,加热时间从70 min减少至25 min,加热速率提升一倍,为电子产品高温试验提供更完善的的试验环境.
高温试验箱、热分析、热测试、温度均匀性
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TB491(工业通用技术与设备)
2020-03-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共6页
159-164
