纳米负载催化剂的透射电子显微镜表征
利用透射电子显微镜(TEM)的明场、暗场和扫描透射3种表征技术对纳米负载催化剂Cu-Ag/SiO2的微观形貌、结构进行研究表征,并将所得结果进行对比,讨论这3种技术在表征负载催化剂微观结构方面的优缺点.结果表明:STEM不仅能表征纳米颗粒的粒径分布,还能得到样品的元素分布信息,结果最为直观全面.
透射电子显微镜、暗场、扫描透射、纳米负载催化剂
39
TB383;O785+.5;TB92;TM930.114(工程材料学)
2013-05-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共4页
73-76
