微光像增强器纳秒级荧光屏余辉时间测试系统
荧光屏时间特性是评价像增强器性能的重要参数之一.微光像增强器纳秒级荧光屏余辉时间目前尚缺乏测试手段,基于传统像增强器余辉时间的测试方案,研制了纳秒级荧光屏余辉时间测试系统.该系统通过采样速率250 MHz的高速信号发生器完成对激光二极管光脉冲的激励,经由下降时间为0.57 ns的光电倍增管完成对荧光屏光信号的光电转换,μA量级的微弱光电流信号经放大及单端转差分电路,在AD9684中完成AD转换,随后荧光屏数字亮度信息经现场可编程门阵列(field programmable gate array,FPGA)后存储至DDR(double data rate)单元内,经上位机发出指令实现DDR内存的读取,通过USB3.0高速传输协议至上位机中.在数据处理中采用卡尔曼滤波及快速寻找下降沿算法,实现对采集数据的噪声滤波和余辉时间的准确测量.测试结果表明,该纳秒级荧光屏余辉时间测试系统可对具有超快光学特性的像增强器进行有效测试,P47型荧光粉的余辉测试结果达到118.0944 ns,重复度为2.08％.
像增强器、快速余辉、自动测试系统、卡尔曼滤波、现场可编程门阵列
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TN144(真空电子技术)
国家重大科学仪器设备开发专项2016YFF0100400
2022-11-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共8页
1130-1137
