用于三维测量的快速相位解包裹算法
减少条纹投影轮廓术的条纹图数量一直是本领域的研究热点.传统的时间相位解包裹算法,一般需要额外的条纹信息来确定条纹级次,导致条纹图数量过多.提出一种用于三维测量的快速相位解包裹算法,只需要N步标准相移正弦条纹图,就可以完成绝对相位的计算.首先,利用标准相移算法计算包裹相位和消除背景的掩膜;然后,直接利用包裹相位和掩膜,根据连通域标记算法计算条纹级次,进而求得绝对相位.该方法最少只需3幅条纹图,就可以完成三维测量,数据处理速度快.计算机仿真和实验结果验证了该方法的有效性和鲁棒性.
三维测量、相位解包裹、条纹投影、相移
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TN29;TP274(光电子技术、激光技术)
国家自然科学基金61661034,61465010;江西省重点研发计划20171BBE50012;江西省教育厅科技计划DA201808191;南昌航空大学研究生创新基金YC2017050
2019-05-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共7页
271-277
