大面积微通道板(MCP)电子清刷测试系统设计
电子清刷是提升MCP性能的有效手段,鉴于目前国内的清刷测试系统只适用于直径30 mm以下的MCP,设计了一套4工位大面积MCP(500 mm×100 mm)的清刷测试系统.该系统4个工位均可实现对大面积MCP的电子清刷,且其中一个工位兼具测试功能,可以测试清刷前后MCP的参数变化,清刷测试工位可实现相互转换.通过均匀紫外光照射金阴极产生均匀电子再经标准MCP(Φ105 mm)倍增后得到用于清刷的可调均匀电子束.多次抽真空、检漏、及对该系统的烘烤处理使该系统达到真空度5×10-4 Pa的时间小于45 min,且极限真空度优于5×10-5 Pa,完全满足了清刷测试的指标要求.针对负载对该真空系统抽真空难度带来的影响,定义了负载影响因子K,并在实验过程中对K值作了量化计算(K值在0.35~1.57范围内),揭示了K值与该系统抽真空难度存在的正比例关系.
清刷测试系统、大面积MCP、面电子源、真空度
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TN15(真空电子技术)
国家自然基金61301023
2017-01-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共6页
833-838
