一种基于PIN型光电二极管频率响应的测试方法
根据信号系统相关理论,提出了一种针对该类光电探测器频率响应的测试方法.该方法实现的测试系统主要包括窄带脉冲激光光源、光强衰减装置和光电探测器等.由光电探测器接收经过光强衰减后的窄带激光脉冲信号,同时利用数字示波器获得相应信号波形的上升时间；根据相关的计算公式,得到光电探测器的频率响应；对所得测试结果进行误差分析.实验结果表明:对理论频率响应带宽为10.6 MHz的探测器,利用该方法测得的相对误差为6％左右,该测试方法简单、可行,适用范围广.
光电探测、频率响应、光电二极管、上升时间
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TN364(半导体技术)
教育部科学技术研究重点项目211027;山西省科技基础条件平台建设项目2010091013
2013-01-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共4页
1088-1091
