MRR故障对二进制全光全加器的性能影响研究
针对现有的二进制全光全加器所需微环谐振器(MRR)数量较多的问题,首次提出了3个MRR串联结构的全光全加器.针对MRR对温度的波动和制程偏差非常敏感,容易产生故障,建立了MRR故障模型,设计了全光全加器(OFA)的可靠性指标平均误差距离,分析了MRR单故障模型对OFA性能的影响.插入损耗(insertion loss,IL)的实验结果表明,提出的OFA结构总体上优于现有的OFA结构;相比现有的方案,提出的OFA结构的MRR硬件开销最多减少70％,最少减少50％;平均误差距离的实验结果表明,方案1和方案2的平均误差距离较大,本文提出方案的平均误差距离适中;多位二进制全加器中,最高位在单故障模型下的,平均误差距离的绝对值均随着多位二进制全加器的位数增加而增大;最低位在单故障模型下的,平均误差距离的绝对值均随着多位二进制全加器的位数增加保持不变;实物验证和基于Modelsim平台的实验验证了MRR故障对全加器的性能影响的正确性.
全光全加器;微环谐振器;故障模型
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TH701;TN256;TP391.72(仪器、仪表)
国家自然科学基金;广西自然科学基金;广西自动检测技术与仪器重点实验室基金
2021-12-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共13页
164-176
