10.3969/j.issn.0254-3087.2013.03.032
基于正态商分布的模拟故障容差处理新方法
斜率故障模型较好地解决了线性模拟电路的软故障诊断问题,但软故障诊断过程中的容差影响问题仍然是一个富有挑战性的难题.提出了一种结合了斜率故障模型和正态商分布的模拟电路软故障诊断的容差处理新方法.对比分析了几种典型的基于斜率故障模型的容差处理方法,推导了容差影响下斜率故障特征的近似概率分布函数,给出了提高近似精度的基本条件.证明了正态商分布与标准正态分布在一定范围内的单调连续映射关系,并由此推导出容差影响下斜率故障特征变化范围的估计公式.设计了一种新的测点选择算法,大大减小了最优测点选择的计算量.实验证明,提出的故障诊断方法对容差影响下的软故障具有良好的定位精度.
软故障诊断、模拟电路、正态商分布、容差、斜率故障模型
34
TN710(基本电子电路)
国家自然基金61201131
2013-05-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共9页
698-706
