基于优化K-D树的大面积高密度PCB快速AOI
传统的AOl孔搜索算法是基于顺序的查询方法,其局限在于,随着孔数N的增加,其查询时间以O(N2)急剧恶化,严重影响了大面积高密度PCB的检测效率.提出一种基于优化K-D树的AOl系统查询算法,该方法在建立树和进行完整查询时的效率均为O(NlogN).实验表明,这种方法查询效率明显高于顺序查询法,对含有大量孔的PCB仍然有较短的查询时间,因而可以较大幅度地提高AOI的检测效率,在需要点位置查询的仪器领域也有广泛的应用前景.
自动光学检测、K-D树、印制电路板
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TP391.4(计算技术、计算机技术)
粤港关键领域重点突破项目091683
2011-08-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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