10.3321/j.issn:0254-3087.2006.09.044
精密LCR测试仪SMD夹具设计技术研究
本文阐述了高频精密LCR测试仪中,SMD测试夹具设计方法中的关键技术,并给出了实验结果,所设计的夹具可以工作在75kHz~30MHz,阻抗附加误差小于1%±0.1Ω,夹具重复性好,可靠性高.
精密LCR测试仪、SMD夹具、四端对结构
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TB973(计量学)
信息产业部电子科学院基金I17B2000006
2006-10-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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