10.3321/j.issn:1001-506X.1999.08.020
基于Bayes的量度继电器成功率可靠性验证试验
提出了量度继电器的可靠性指标体系,研究了用Bayes理论设计航天、航空用量度继电器产品的成功率验证试验方案.并与经典方法设计的成功率验证试验方案进行了比较.在特定的先验信息下,Bayes方案所需样本容量较小.
可靠性、验证试验、继电器、+成功率
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TP3(计算技术、计算机技术)
天津市21世纪青年科学基金993701411
2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共4页
60-63
