10.3969/j.issn.1001-2400.2017.04.006
低成本片上射频内建自测系统的关键参数测量
针对芯片射频测试成本不断提高的问题,提出了一种低成本片上系统射频内建自测电路结构及其关键参数测量处理方法.此射频内建自测结构着重利用片上已有数字信号处理器、坐标旋转数字计算机和模数转换器对射频测试信号进行数字傅里叶变换,并利用低成本结构进行对数计算得到相应的信噪比.另外,该自测结构利用环回结构设计,将射频部分产生的信号用来作为测试信号而避免了外部噪声的干扰.这种射频内建自测方法已经成为一种有效的、低成本的设计方法,并用于新产品的量产.相对于以往的射频测试方法,该方法有效地减小了额外的硬件开销,在保证测试质量的情况下,降低了射频电路的测试成本.
射频内建自测、坐标旋转数字计算机、环回结构、信噪比
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TN4(微电子学、集成电路（IC）)
国家自然科学基金资助项目61376099,11235008
2017-09-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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