10.3969/j.issn.1001-2400.2017.02.014
0.35μm CMOS工艺的品质因数时域测量电路
基于品质因数的时域测量方法,提出了一种新的可以片上集成的品质因数测量电路,不仅在特定频率能实现品质因数的精确测量,还可在保持电路精度的前提下,覆盖一定待测信号的频带.在采用之前提出的可重构电路的基础上,改进了峰值探测器的补偿方式,进行了系统精度和扩频所需的理论分析,有效指导了电路的设计.另外,数字控制逻辑的改进,将总功耗降低7.5%.并通过集成电路的方式在0.35μm CMOS工艺下实现此电路,在电源电压为5V,输入信号频率为1MHz的条件下,实现品质因数的相对误差小于±0.2%,并且在精度不变的情况下,将待测信号的频段扩展到100kHz~1.5MHz.
品质因数、时域测量、片上
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TN43(微电子学、集成电路（IC）)
2017-05-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共6页
75-80
