10.3969/j.issn.1001-2400.2009.02.034
一种有限扫描操作测试压缩方法
针对集成电路测试时间长,导致测试费用高的问题,提出了一种基于有限扫描操作的扫描电路静态测试压缩方法.利用有限扫描操作代替全扫描操作,用有限扫描操作合并测试对,通过减少移位操作次数减少测试时间.同时,将启发武方法用于限制候选测试对数量,给候选测试对进行排序,降低计算复杂度,加速压缩过程.基准电路实验结果表明,相同故障覆盖率下,本方法所需平均测试时间仅为典型方法的50%左右.
测试应用时间、有限扫描操作、静态测试压缩、启发式方法
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TP302(计算技术、计算机技术)
国家重点实验室基金资助51487020104
2009-05-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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