期刊专题

10.3969/j.issn.1001-2400.2001.03.025

超低副瓣天线平面近场测量截断误差分析

引用
给出了平面近场测量中由于有限扫描面截断所引起的远场相对误差的表达式以及扫描面宽度选择原则,用计算机模拟的方法研究了有限扫描面对超低副瓣天线平面近场测量结果的影响,得到了一些基本的规律,并证实了扫描面宽度选择原则对于超低副瓣天线平面近场测量的适用性和正确性.

超低副瓣天线、平面近场测量、有限扫描面、截断误差、扫描面宽度选择原

28

TM930.115;TN827+.1

国家部委预研项目7.4.9.2

2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

378-382

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

西安电子科技大学学报(自然科学版)

1001-2400

61-1076/TN

28

2001,28(3)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn

打开万方数据APP,体验更流畅