10.3969/j.issn.1001-2400.2001.03.015
元器件质量与可靠性数据统计分布规律的拟合
在元器件质量和可靠性分析中,往往要确定试验和测试数据的统计分布规律.针对元器件质量和可靠性问题的数据特点,采用非线性最小二乘法拟合方法,并开发了相应的计算机程序,用于自动确定数据的统计分布规律,对实际生产线采集的数据进行分析处理,其精度明显优于传统方法.
可靠性、统计分布、拟合、非线性最小二乘法、拟合优度检验
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TN405(微电子学、集成电路(IC))
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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