10.3969/j.issn.1001-2400.1999.02.015
d-叉树k-FT结构的可靠性分析及冗余单元的分配
随着芯片面积的增加及电路复杂性的增强,系统的可靠性逐渐下降.为了保证有较高的可靠性,人们将容错技术引进了集成电路的设计中.文中分析了d-叉树的k-FT结构的可靠性,同时讨论了如何分配冗余单元才能使系统具有较高可靠性的问题.
d-叉树、可靠性分析、覆盖因子、冗余单元分配
26
TN47(微电子学、集成电路（IC）)
国防预研基金;国家科技攻关项目
2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共4页
197-200
