10.13911/j.cnki.1004-3365.210333
一种SAR ADC电容失配自测量与数字校准技术
为了解决高分辨率逐次逼近模数转换器(SAR ADC)中,电容式数模转换器(DAC)的电容失配导致精度下降的问题,提出了一种电容失配自测量方法,以及一种可适用于各种差分电容DAC设计的低复杂度的前台数字校准方法.该方法利用自身电容阵列及比较器完成位电容失配测量,基于电容失配的转换曲线分析,对每一位输出的权重进行修正,得到实际DAC电容大小对应的正确权重,完成数字校准.数模混合电路仿真结果表明,引入电容失配的16位SAR ADC,经该方法校准后,有效位数由10.74 bit提高到15.38 bit.
逐次逼近模数转换器、数字校准、电容失配
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TN792(基本电子电路)
重庆市科技局产业化项目;重庆市科技局产业化项目
2022-10-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共5页
550-554
