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10.13911/j.cnki.1004-3365.210005

NAND闪存错误缓解技术综述

引用
NAND闪存以其高存储密度、高速、低功耗等优点被广泛应用于数据存储.三维堆叠闪存技术的出现和多值存储技术的发展进一步提高了密度,降低了存储成本,同时也带来了更加严重的可靠性问题.闪存主控厂商一直采用更强大的纠错码(ECC),如BCH和LDPC码来对闪存中的数据错误进行纠正.但当NAND闪存中的错误数超出ECC纠错能力时,错误将无法被纠正,因此研究人员提出了多种基于NAND闪存的错误缓解技术作为ECC的补充方案.本文介绍了NAND闪存的工作原理和错误模式,对最新的错误缓解技术进行综述,为设计更加可靠的存储解决方案提供了有益参考.

NAND闪存、可靠性、错误缓解、存储特性

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TN432;TP333.5(微电子学、集成电路(IC))

国家科技重大专项2017X02301006-001

2021-08-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共8页

374-381

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微电子学

1004-3365

50-1090/TN

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2021,51(3)

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