期刊专题

10.13911/j.cnki.1004-3365.170500

基于互连线延时的SET脉冲宽度评估模型

引用
研究了互连线延时对单粒子瞬态脉冲效应的影响.研究发现,随着互连线长度的增加,瞬态脉冲首先被展宽,在一定距离后,脉冲宽度衰减为零.基于此研究结果,提出了脉冲宽度随互连线长度变化的数学解析模型.在SMIC 130 nm、90 nm CMOS工艺下,采用Spice软件对应用该数学解析模型的多种器件进行验证.结果表明,该数学解析模型的计算值与仿真值误差最大为6.09%,最小为0.37%.该模型提高了单粒子瞬态脉冲宽度的评估准确度,可应用于单粒子瞬态脉冲效应的硬件加速模拟.

单粒子瞬态、互连线延时、脉冲宽度评估

48

TN406(微电子学、集成电路(IC))

国家自然科学基金联合基金资助项目U1630133;中央高校基本科研业务费资助项目ZYGX2016J185

2018-11-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

677-681

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

微电子学

1004-3365

50-1090/TN

48

2018,48(5)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn

打开万方数据APP,体验更流畅