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10.13911/j.cnki.1004-3365.170074

硅纳米线的制备与热氧化处理

引用
采用金属催化化学腐蚀法制备硅纳米线(SiNW),并进行热氧化处理.制备的硅纳米线的线径减小.研究了热氧化处理对硅纳米线线径的影响.利用光电显微镜和扫描电子显微镜(SEM)观察实验结果,刻蚀后形成了长度为100μm、线径为100 nm的排列整齐的硅纳米线.在温度为400℃、时间为20 min的热氧化处理后,硅纳米线的线径由100 nm减小至50 nm.这表明,通过热氧化处理后的硅纳米线具有更小的线径.

金属催化化学腐蚀法、硅纳米线、热氧化处理

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TN304.1+2(半导体技术)

河南省基础前沿项目152300410023

2018-04-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

131-134,140

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微电子学

1004-3365

50-1090/TN

48

2018,48(1)

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