系统建模与去嵌在RF IC批量测试中的应用
生产测试中通常使用网络分析仪进行射频集成电路(RF IC)S参数测量.一些表贴封装元器件不能直接与网络分析仪连接,通常使用含夹具的测试系统进行连接测试.在无法提供有效校准件的情况下,提出了利用测试系统建模结合去嵌入的方法,解决了RF IC批量测试中的S参数测试问题,并进行了对比验证.
S参数、去嵌入、夹具效应、射频测量、网络分析仪
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TN407(微电子学、集成电路(IC))
2017-05-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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