用于数模混合电路中ADC测试的IP核设计
针对片上系统(SoC)中模数转换器(ADC)的测试,提出了一种测试IP核结构.IP核主要由模拟信号源、换位器和标准数模转换器(DAC)等组成,能够根据设计者不同的需求选择不同的测试方案.针对ADC的低位呆滞故障以及跳变故障的检测,提出了一种新的检测方法,解决了ADC低位故障检测困难的问题,该方法还可以用于对电压稳定度以及噪声的测量.通过对IP核数字电路部分的设计与仿真,证明IP核是可行的.
IP核、模数转换器、片上系统、混合电路测试、噪声测量
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TN407(微电子学、集成电路（IC）)
2017-01-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
849-853
