一种高性能低功耗SEU免疫锁存器
为了缓解瞬态故障引发的软错误,提出一种对单粒子翻转完全免疫的加固锁存器.该锁存器使用4个输入分离的反相器构成双模互锁结构,使用具有过滤瞬态故障能力的C单元作为输出级,采用快速路径设计和钟控设计以提升速度和降低功耗.Hspice仿真结果表明,该电路结构没有未加固节点,所有节点都具有自恢复能力,适用于门控时钟电路.相比于SIN-LC,CascodeST,FERST,TMR和SEUI加固等类型的锁存器,该锁存器的延迟、功耗、功耗延迟积平均下降82.72％,25.45％,84.24％.此外,该电路结构受工艺角、供电电压和温度扰动的影响较小.
加固锁存器、瞬态故障、单粒子翻转、软错误、门控时钟电路
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TN47(微电子学、集成电路（IC）)
国家自然科学基金资助项目61574052,61274036,61371025,61474036;安徽省自然科学基金资助项目1608085MF149
2016-09-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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