半导体器件贮存可靠性快速评价方法
为解决复杂环境下半导体器件的贮存可靠性评估问题,结合半导体器件的贮存失效机理及其寿命-应力模型,提出了基于多贮存应力加速寿命试验的半导体器件贮存可靠性评估方法.在此基础上,以某款中频对数放大电路为研究对象,通过对加速寿命试验结果的分析,获得了电路在规定贮存时间下的可靠度.
半导体器件、加速寿命试验、多贮存应力、贮存可靠性
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TN722.7(基本电子电路)
模拟集成电路重点实验室基金资助项目9140C090406120C09037
2015-07-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
387-390
