一种片上可测试FLASH存储器的设计
介绍了一种片上FLASH存储器的设计与实现.通过对FLASH IP接口功能及时序的分析,实现了特定FLASH的控制逻辑;对FLASH增加了片外测试接口,便于片外测试.仿真结果表明,该设计可实现对FLASH的操作与片外测试功能.
FLASH、接口、SoC、可测试性
45
TN492(微电子学、集成电路(IC))
2015-05-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
237-240
FLASH、接口、SoC、可测试性
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TN492(微电子学、集成电路(IC))
2015-05-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
237-240
国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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