半导体器件老炼筛选试验设计
老炼筛选试验是有效剔除内合固有工艺缺陷的半导体器件,以及保证半导体器件使用可靠性的重要途径.本文阐述了半导体器件早期失效的基本概念,并给出了半导体器件早期失效率的预计方法.在此基础上提出了半导体器件老炼筛选试验设计方法,以期最大限度地保证半导体器件出厂后的使用可靠性.
半导体器件、早期失效、老炼筛选、加速应力试验
44
TN707(基本电子电路)
2014-08-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
392-394,408
半导体器件、早期失效、老炼筛选、加速应力试验
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TN707(基本电子电路)
2014-08-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
392-394,408
国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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