10.3969/j.issn.1004-3365.2013.01.033
电子元器件加速寿命试验的挑战与对策
加速寿命试验是评价和提升高可靠长寿命电子元器件长期工作可靠性的有效方法.详细介绍了电子元器件加速寿命试验方案设计和实施中需要考虑的主要问题；通过一个实例,说明了不充分的加速寿命试验最终可能在现场应用中引起严重的事故；探讨了如何基于上述挑战,改进加速寿命试验设计的措施,以期促进我国电子元器件加速寿命试验技术的发展.
高可靠性、电子元器件、加速寿命试验、可靠性评价
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TN406(微电子学、集成电路（IC）)
模拟集成电路重点实验室基金资助项目9140C090406120C09037;民用航空预先研究资助项目YG0901-3
2013-04-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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