10.3969/j.issn.1004-3365.2013.01.031
降低数字集成电路测试功耗的向量排序方法
研究了数字集成电路测试过程中的功耗问题,提出一种新的测试向量重排序方法,有效地减小了测试过程中电路状态的翻转次数.该方法根据电路结构和测试集的特征计算输入的影响度系数,定义加权海明距离,在不影响故障覆盖率的前提下,有效地降低了测试功耗.实验结果显示,经过该方法重排序后的测试集在测试过程中功耗平均降低48.07％,明显优于海明距离法.
数字集成电路、测试功耗、测试向量排序、加权海明距离
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TN47(微电子学、集成电路（IC）)
2013-04-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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