一种新型高线性度CMOS自举采样开关
分析了采样开关中非线性的来源,以及传统自举采样开关的弊端,提出了一种新型高线性度CMOS自举采样开关电路结构.相比传统自举采样开关,新型电路可以将阈值电压随输入信号变化引入的非线性减至最小.采用0.18μm标准CMOS工艺,在Cadence Spectre环境下仿真.结果显示,当输入频率为15 MHz、峰峰值为0.84 V的正弦波,且采样时钟频率为30 MHz时,采样开关的无杂散动态范围达到93 dB,较之传统自举采样开关提高了近20 dB.
CMOS、自举采样开关、非线性、无杂散动态范围
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TN432(微电子学、集成电路（IC）)
2012-04-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共5页
799-802,809
